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产品信息  / News
X射线衍射残余应力测量
来源: | 作者:teclab | 发布时间: 2015-08-07 | 5109 次浏览 | 分享到:
安全,轻便的X射线残余应力测量仪
产品中的残余应力常常影响到成品的质量,安装和使用寿命等问题,X射线衍射测量残余应力做为目前普遍的技术手段,为残余应力的精确测量提供了有力的技术手段。TECLAB公司提供的XRD残余应力测量技术采用了先进的工业技术使得X射线残余应力测量变得更安全更方便:

1. X射线超低功率,仅仅4W. 辐射伤害可能性大大降低
    目前市面上同类设备一般200W-2KW,
2. 无需水冷却系统,采用空气冷却
3. 超高速多通道探测器数据实时采集
4. 全程软件控制及Reitveld分析
5. 1280通道超高灵敏度PSD探测器,最大计数率> 1.2×109cps
6. 多种版本可选,3D测量


技术特点:
Rietveld法分析整体分布
准确而灵活的测量保证
应用于各种各样的材料
关键的微结构和相组合控制
数据采集于分析软件课应用于各种操作平台
便携式的机体
被测体尺寸无限制


  
                  



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