超声相控阵成像检测技术是工业应用和科学研究热门技术。TECLAB聚焦超声相控阵和阵列超声成像的硬件和软件算法开发集成工作十余年。积累的大量的行业经验。
拥有以下优势：
1、相控阵超声：线扫，扇扫，动态深度聚焦DDF，区域聚焦
2、高级成像算法：孔径聚焦SAFT,全矩阵采集FMC，快速全聚焦采集PWI
3、复杂形状高精度成像检测：自适应成像算法用于FMC，PWI
4、非线性声学成像检测
5、相控阵超声任意波形激励
超声相控阵成像检测技术是工业应用和科学研究热门技术。TECLAB聚焦超声相控阵和阵列超声成像的硬件和软件算法开发集成工作十余年。积累的大量的行业经验。
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2、高级成像算法：孔径聚焦SAFT,全矩阵采集FMC，快速全聚焦采集PWI
3、复杂形状高精度成像检测：自适应成像算法用于FMC，PWI
4、非线性声学成像检测
5、相控阵超声任意波形激励
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