概述

X射线衍射仪是研究物质内部微观结构的一种大型的高功率分析仪器，其专为在常规环境条件下和非常规环境条件下，对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计，外型美观、易于操作、用户友好、使用寿命长、智能化、检测精度高，是材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等领域的理想分析工具。

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。

界面FRINGE操作简单，同时具有高分析速度、极低的检测限和强稳定性等特点，非常适用工业、学术研究等领域的用户操作。紧凑轻便的外形和易于使用的设计，十分节约空间，适合每一台办公桌，只需准备标准的电源插座，然后花费几分钟的时间，即可完成对粉未、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，是各种材料结构分析的理想之选。

• 智能化
• 用户管理
• 安全性
• 一键操作

技术规格

应用场景

主要应用：

-定性相分析和定量相分析

-晶体结构解析

-晶体取向分析、金属材料织构、残余应力分析等

-结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析、微区样品的分析

-非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）

-薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度可理想地满足学术界的研究和工业界的质控要求。